亚微米粒径电位检测仪

Nicomp 380 Zeta电位仪

专为复杂体系提供高精度粒度解析方案

基本信息

仪器型号：Nicomp 380 N3000纳米粒度仪

工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）

检测范围：0.3nm-10.0μm

Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围0.3nm–10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法和拥有Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有*优势。

技术优势

1、高灵敏度PMT检测器；

2、可搭配不同功率光源；

3、精度高，接近样品真实值；

4、快速检测，可以追溯历史数据；

5、结果数据以多种形式和格式呈现；

6、符合USP,CP等个多药典要求；

7、无需校准；

8、复合型算法：

（1）高斯（Gaussion）单峰算法与*的Nicomp多峰算法自由切换

9、模块化设计便于维护和升级；

（1）可自动稀释模块（选配）；

（2）自动进样系统（选配）；

（3）搭配多角度检测器（选配）；

更多访问：

http://www.china-pss.com/sjxd-Products-20809237/

https://www.chem17.com/st277818/product_20809237.html

原文链接：http://www.hzciic.com/chanpin/show-86521.html，转载和复制请保留此链接。
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