高精度薄膜测厚仪THK-01采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量，也成为薄膜厚度测量仪、塑料薄膜厚度测试仪、薄膜厚度检测仪和薄膜厚度测定仪等。
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薄膜测厚仪
高精度薄膜测厚仪主要参数：
通用名称：测厚仪
测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）
分辨率：0.1μm
测试速度：1～25次/min
测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）
重复性：0.3μm
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；
接触面积：50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；薄膜、纸张任选一种，非标可定制
电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
约净重：30Kg
测试标准
该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
高精度薄膜测厚仪
http://www.pubtester01.com/SonList-2041761.html
https://www.chem17.com/st431047/erlist_2041761.html
原文链接：http://www.hzciic.com/hangqing/show-51079.html，转载和复制请保留此链接。
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